EMI是如何造成直流偏差的？如何減少精密模擬應用中的誤差

　　在醫療設備、汽車儀器儀表和工業控制等科技領域中，當設備設計涉及應變計、傳感器接口和電流監控時，通常需要采用精密模擬前端放大器，以便提取并放大非常微弱的真實信號，并抑制共模電壓和噪聲等無用信號。首先，設計人員將集中精力確保器件級噪聲、失調、增益和溫度穩定性等精度參數符合應用要求。然后，設計人員根據上述特性，選擇符合總誤差預算要求的前端模擬器件。不過，此類應用中存在一個經常被忽視的問題，即外部信號導致的高頻干擾，也就是通常所說的“電磁干擾（EMI）”。EMI可以通過多種方式發生，主要受最終應用影響。例如，與直流電機接口的控制板中可能會用到儀表放大器，而電機的電流環路包含電源引線、電刷、換向器和線圈，通常就像天線一樣可以發射高頻信號，因而可能會干擾儀表放大器輸入端的微小電壓。另一個例子是汽車電磁閥控制中的電流檢測。電磁閥由車輛電池通過長導線來供電，這些導線就像天線一樣。該導線路徑中連接著一個串聯分流電阻，然后通過電流檢測放大器來測量該電阻上的電壓。該線路中可能存在高頻共模信號，而該放大器的輸入端容易受到這類外部信號的影響。一旦受到外部高頻干擾影響，就可能導致模擬器件的精度下降，甚至可能無法控制電磁閥電路。這種狀態在放大器中的表現就是放大器輸出精度超過誤差預算和數據手冊中的容差，甚至在某些情況下可能會達到限值，從而導致控制環路關斷。 EMI是如何造成較大的直流偏差呢？可能是以下一種情形：根據設計，很多儀表放大器可以在最高數十千赫的頻率范圍內表現出極佳的共模抑制性能。但是，非屏蔽的放大器接觸到數十或數百“兆赫”的RF輻射時，就可能會出現問題。此時放大器的輸入級可能會出現非對稱整流，從而產生直流失調，進一步放大后，會非常明顯，再加上放大器的增益，甚至達到其輸出或部分外部電路的上限。