彈片微針模組在平板電腦測試中擁有著穩定的連接功能

平板電腦可靠性測試項目包括高低溫環境下的操作、循環、存儲測試，冷熱沖擊測試，老化測試，濕熱測試、高空跌落測試，耐鹽霧、耐腐蝕測試、抗沖擊、振動測試等等。平板電腦的觸摸屏、攝像頭、電池等組件以及內部電路和連接器的連接、傳輸等也都需要經過測試。測試中有電流傳輸和信號導通的需求，可用彈片微針模組進行連接。

彈片微針模組在平板電腦測試中擁有穩定的連接功能，在大電流傳輸中，能通過1-50A范圍內的電流，且連接穩定，無電流衰減，可更好的保證平板電腦通過大電流測試。

在小pitch領域內，特別是≤0.2mm的pitch中，彈片微針模組都可保持極佳的連接性能，即使長時間應對也不會卡PIN、斷針，表現力和壽命都遠超其他模組。

平均20w次以上的使用壽命，能使彈片微針模組在平板電腦大批次高頻率的測試中保持超強的連接性，提高平板電腦的測試效率，還能在程度上節省時間和物力成本，避免材料的浪費。

平板電腦可靠性測試是驗證平板電腦質量、性能的直接途徑，對于測試設備的選擇以及各個環節的把控都很重要，彈片微針模組可滿足平板電腦的測試需求，有著不可替代性，可保證平板電腦測試的穩定進行，對提高測試效率也有很大幫助，是非常值得選擇的連接模組。

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